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Artikel

Prüßing, Jan K., Böckendorf, Tim, Kipke, Felix, Xu, Jiushuai, Puranto, Prabowo, Lundsgaard Hansen, John, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin und Bracht, Hartmut (2022) Retarded boron and phosphorus diffusion in silicon nanopillars due to stress induced vacancy injection. Journal of Applied Physics 131 (7). Volltext nicht vorhanden.

Prüßing, Jan K.

, Hamdana, Gerry, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin und Bracht, Hartmut (2019) Quantitative scanning spreading resistance microscopy on n-type dopant diffusion profiles in germanium and the origin of dopant deactivation. Journal of Applied Physics 125 (085105).

Prüßing, Jan K., Hamdana, Gerry, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin

und Bracht, Hartmut (2019) Quantitative scanning spreading resistance microscopy on n-type dopant diffusion profiles in germanium and the origin of dopant deactivation. Journal of Applied Physics 125 (8), 085105. Volltext nicht vorhanden.

Diese Liste wurde erzeugt am Sat Nov 23 10:39:06 2024 CET.

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