Einträge von Scholz, F auf dem Publikationsserver

Jönen, H, Bremers, H, Rossow, U, Langer, T, Kruse, A, Hoffmann, L, Thalmair, J, Zweck, J, Schwaiger, S, Scholz, F und Hangleiter, A (2012) Analysis of indium incorporation in non- and semipolar GaInN QW structures: comparing x-ray diffraction and optical properties. Semiconductor Science and Technology 27 (2), 024013. Volltext nicht vorhanden.