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Anzahl der Einträge: 4.

2012

Jönen, H, Bremers, H, Rossow, U, Langer, T, Kruse, A, Hoffmann, L, Thalmair, J, Zweck, J, Schwaiger, S, Scholz, F und Hangleiter, A (2012) Analysis of indium incorporation in non- and semipolar GaInN QW structures: comparing x-ray diffraction and optical properties. Semiconductor Science and Technology 27 (2), 024013. Volltext nicht vorhanden.

2003

Schneider, M, Hoffmann, H und Zweck, J (2003) Magnetisation reversal of thin submicron elliptical permalloy elements. Journal of Magnetism and Magnetic Materials 257 (1), S. 1-10. Volltext nicht vorhanden.

2002

Engl, K, Brunner, W und Zweck, J (2002) Transition from amorphous Fe to polycrystalline body-centred-cubic Fe in Gd/Fe and Dy/Fe multilayered thin films. Journal of Physics: Condensed Matter 14 (43), S. 10033-10040. Volltext nicht vorhanden.

2001

Brunner, W, Attenberger, W, Hoffmann, H und Zweck, J (2001) Derivation of pair distribution functions for interface interdiffusion analysis for multilayered thin films using high-energy electron diffraction. Journal of Physics: Condensed Matter 13 (13), S. 2865-2873. Volltext nicht vorhanden.

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