| Download ( PDF | 8MB) | Lizenz: Veröffentlichungsvertrag für Publikationen ohne Print on Demand |
Beiträge zum ferroelektrischen Transistor und zu dessen Integration in nicht-flüchtige Speicher
Haneder, Thomas (2005) Beiträge zum ferroelektrischen Transistor und zu dessen Integration in nicht-flüchtige Speicher. Dissertation, Universität Regensburg.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 07 Jul 2005 06:59
Hochschulschrift der Universität Regensburg
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.10321
Zusammenfassung (Deutsch)
Ferroelektrische Transistoren gelten als viel versprechende Bauelemente im Hinblick auf die Entwicklung neuer, nicht-flüchtiger mikroelektronischer Speicher. In dieser Arbeit werden Möglichkeiten zum Bau solcher Transistoren und daraus bestehender Speicher untersucht. Behandelt werden insbesondere Fragen des Transistoraufbaus, der Materialauswahl, der Herstellung und Charakterisierung, aber auch ...
Ferroelektrische Transistoren gelten als viel versprechende Bauelemente im Hinblick auf die Entwicklung neuer, nicht-flüchtiger mikroelektronischer Speicher. In dieser Arbeit werden Möglichkeiten zum Bau solcher Transistoren und daraus bestehender Speicher untersucht. Behandelt werden insbesondere Fragen des Transistoraufbaus, der Materialauswahl, der Herstellung und Charakterisierung, aber auch die Integration ferroelektrischer Feldeffekttransistoren, also der Aufbau von Zellenfeldern eines Speichers.
Zum Abschluss werden neue Ideen rund um den ferroelektrischen Transistor vorgestellt, die im Rahmen dieser Arbeit entstanden sind.
Übersetzung der Zusammenfassung (Englisch)
The ferroelectric field effect transistor is considered a promising candidate for future non-volatile memories in microelectronics. In this work we investigate different possibilities for building a ferroelectric transistor and memory cells composed of such transistors. Special emphasis is put on transistor gate stack design, materials to be used, processing and characterization of gate stacks, ...
The ferroelectric field effect transistor is considered a promising candidate for future non-volatile memories in microelectronics.
In this work we investigate different possibilities for building a ferroelectric transistor and memory cells composed of such transistors.
Special emphasis is put on transistor gate stack design, materials to be used, processing and characterization of gate stacks, and finally also on the integration of such devices into memory cells.
New ideas and concepts around the ferroelectric transistor are presented.
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Hochschulschrift der Universität Regensburg (Dissertation) | ||||||||
| Datum | 6 Juli 2005 | ||||||||
| Begutachter (Erstgutachter) | Henning (Prof. Dr.) von Philipsborn | ||||||||
| Tag der Prüfung | 28 Juni 2005 | ||||||||
| Institutionen | Physik | ||||||||
| Klassifikation |
| ||||||||
| Stichwörter / Keywords | Feldeffekttransistor , MOS-FET , Ferroelektrizität , Integration <Mikroelektronik> , Mikroelektronik , Speicherzelle , Statischer Speicher , Speicherelement , Nichtflüchtiger Speicher , RAM , Integrierte Speicherschaltung , Speicher <Informatik> , MFIS-FET , SBT , CeO2 , ferroelektrischer Transistor , MFIS-FET , SBT , CeO2 , ferroelectric transistor | ||||||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||||||
| Status | Veröffentlicht | ||||||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||||||
| URN der UB Regensburg | urn:nbn:de:bvb:355-opus-5282 | ||||||||
| Dokumenten-ID | 10321 |
Downloadstatistik
Downloadstatistik