Go to content
UR Home

Ballistische Elektronen Emissions Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen

URN to cite this document:
urn:nbn:de:bvb:355-opus-8087
Obernhuber, Sandra
Date of publication of this fulltext: 15 Jun 2007 12:00


Abstract (German)

Für die Realisierung von Spintransistoren ist die genaue Kenntnis der Ferromagnet Halbleitergrenzfläche wichtig. Mit Hilfe der Ballistischen Elektronen Emissions Mikroskopie kann eine vergrabene Grenzfläche mit einer Auflösung im Nanometerbereich charakterisiert werden. In dieser Arbeit wurden verschiedene Ferromagnet/GaAs(110) Grenzflächen hinsichtlich ihrer Homogenität untersucht und die ...

plus

Translation of the abstract (English)

For current research on spintransistors it is important to know the caracteristics of ferromagnet semiconductor interfaces. The ballistic electron emission microscopy (BEEM) is a method to investigate such a buried interface with nanometer resolution. In this work several Ferromagnet/GaAs(110) interfaces have been analysed concerning their homogeneity and mean local schottkybarrierheights (SBH) ...

plus


Owner only: item control page
  1. Homepage UR

University Library

Publication Server

Contact:

Publishing: oa@ur.de

Dissertations: dissertationen@ur.de

Research data: daten@ur.de

Contact persons