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Heinzel, Thomas H. ; Held, R. ; Lüscher, S. ; Ensslin, Klaus ; Wegscheider, Werner

Semiconductor nanostructures with short depletion length and stacked gates, patterned with an atomic force microscope

Heinzel, Thomas H., Held, R., Lüscher, S., Ensslin, Klaus und Wegscheider, Werner (2000) Semiconductor nanostructures with short depletion length and stacked gates, patterned with an atomic force microscope. Physica E Low-dimensional Systems and Nanostructures 7 (3-4), S. 860-863.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 30 Nov 2009 13:22
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.11039


Zusammenfassung

We have investigated the electronic properties of the confining potentials obtained by oxidizing the surface of Ga[Al]As heterostructures with an atomic force microscope. From magnetotransport measurements on quantum wires at liquid-helium temperatures we find an extremely small lateral depletion length of (15±5) nm as well as a specularity of the boundary scattering above 95%. Furthermore, we ...

We have investigated the electronic properties of the confining potentials obtained by oxidizing the surface of Ga[Al]As heterostructures with an atomic force microscope. From magnetotransport measurements on quantum wires at liquid-helium temperatures we find an extremely small lateral depletion length of (15±5) nm as well as a specularity of the boundary scattering above 95%. Furthermore, we demonstrate that this patterning technique for in-plane gates can be combined with top gate electrodes. Sufficiently thin top gates consisting of a suitable material can be patterned as well with an atomic force microscope, and the top gate structures can be aligned with respect to the in-plane gates.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftPhysica E Low-dimensional Systems and Nanostructures
Verlag:Elsevier
Band:7
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:3-4
Seitenbereich:S. 860-863
DatumMai 2000
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1016/S1386-9477(00)00077-1DOI
Klassifikation
NotationArt
07.79.Lh; 73.20.Dx; 81.05.EdPACS
Stichwörter / KeywordsAtomic force microscope; Semiconductor nanostructures; Nanolithography
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetUnbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstandenUnbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID11039

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