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Górriz, J. M. ; Ramírez, J. ; Puntonet, C. G. ; Theis, Fabian J. ; Lang, Elmar

Bispectrum-based statistical tests for VAD

Górriz, J. M., Ramírez, J., Puntonet, C. G., Theis, Fabian J. und Lang, Elmar (2005) Bispectrum-based statistical tests for VAD. In: Duch, Włodzisław, (ed.) Artificial neural networks: formal models and their applications - ICANN 2005: 15th international conference, Warsaw, Poland, September 11-15, 2005; proceedings. Lecture notes in computer science, 3697. Springer, Berlin, S. 541-546. ISBN 978-3-540-28752-0.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 01 Okt 2010 08:10
Buchkapitel



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Details

DokumentenartBuchkapitel
ISBN978-3-540-28752-0
Buchtitel:Artificial neural networks: formal models and their applications - ICANN 2005: 15th international conference, Warsaw, Poland, September 11-15, 2005; proceedings
Verlag:Springer
Ort der Veröffentlichung:Berlin
Sonstige Reihe:Lecture notes in computer science
Band:3697
Seitenbereich:S. 541-546
Datum2005
InstitutionenBiologie und Vorklinische Medizin > Institut für Biophysik und physikalische Biochemie > Prof. Dr. Elmar Lang
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1007/11550907_85DOI
Verwandte URLs
URLURL Typ
http://www.springerlink.com/content/4c9aqpp4t1qdvg7p/Verlag
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 570 Biowissenschaften, Biologie
StatusVeröffentlicht
BegutachtetUnbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstandenUnbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID16870

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