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Magnetization profile at the Fe/GaAs(001)-4x6 interface

Giovanelli, Luca, Tian, C., Gastelois, P., Panaccione, G., Fabrizioli, M., Hochstrasser, M., Galaktionov, M., Back, Christian und Rossi, G. (2004) Magnetization profile at the Fe/GaAs(001)-4x6 interface. Physica B Condensed Matter 345 (1-4), S. 177-180.

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Zusammenfassung

The magnetization of a thin Fe film epitaxially grown on GaAs(0 0 1)-4×6 was studied at different depths from the metal/semiconductor interface using a single layer of Fe0.5Co0.5 as a marker layer through a double-wedge Fe film. By measuring the X-ray magnetic circular dichroism spectroscopy at the L2,3 of Co, the magnetic response of the film could be sensed at different distances from the ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:März 2004
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/j.physb.2003.11.048DOI
Stichwörter / Keywords:Fe; Co; GaAs; X-ray magnetic circular dichroism; Spin injection
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:20 Mrz 2007
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:17
Dokumenten-ID:1915
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