In this PhD-thesis a method was developed, which offers the possibility to analyze electron diffraction patterns from carbon nanotubes automatically with a computer program to determine the chiral indices n and m. Diffraction patterns of single-walled nanotubes can be evaluated as well as images of multi-walled tubes or bundles of tubes. To be able to verify the results of the algorithm, a simulation program was written, which produces diffraction patterns, that are similar to real ones, i.e. they contain noise, a beamstopper and an undiffracted electron beam.

Im Rahmen dieser Dissertation wurde eine Methode entwickelt, die die Möglichkeit bietet, Elektronenbeugungsaufnahmen von Kohlenstoffnanoröhrchen mit einem Algorithmus automatisch auszuwerten, um die chiralen Indizes n und m zu bestimmen. Sowohl Beugungsbilder von einwandigen Nanoröhrchen als auch Bilder von mehrwandigen Röhrchen und Bündeln können ausgewertet werden. Um die Ergebnisse des Algorithmus bewerten zu können, wurde ein Simulationsprogramm geschrieben, das Beugungsbilder generiert, die experimentell aufgenommenen ähnlich sind, d.h. die Rauschen, einen Abdeckstab und einen ungebeugten Elektronenstrahl enthalten.