Analysis of electron diffraction patterns from carbon nanotubes with image processing to determine structural parameters

Item type:	Thesis of the University of Regensburg (PhD)
Open Access Type:	Primary Publication
Place of Publication:	Regensburg, Germany
Number of Pages:	147
Date:	6 December 2011
Referee:	Prof. Dr. Elmar W. Lang and Prof. Dr. Christoph Strunk
Date of exam:	7 November 2011
Institutions:	Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Chair Professor Weiss > Group Christoph Strunk Biology, Preclinical Medicine > Institut für Biophysik und physikalische Biochemie > Prof. Dr. Elmar Lang
Interdisciplinary Subject Network:	Not selected
Keywords:	Carbon nanotubes Electron diffraction Image Processing
Dewey Decimal Classification:	500 Science > 530 Physics
Status:	Published
Refereed:	Yes, this version has been refereed
Created at the University of Regensburg:	Yes
Item ID:	22789

Abstract (English)

In this PhD-thesis a method was developed, which offers the possibility to analyze electron diffraction patterns from carbon nanotubes automatically with a computer program to determine the chiral indices n and m. Diffraction patterns of single-walled nanotubes can be evaluated as well as images of multi-walled tubes or bundles of tubes. To be able to verify the results of the algorithm, a ...

Abstract (English)

In this PhD-thesis a method was developed, which offers the possibility to analyze electron diffraction patterns from carbon nanotubes automatically with a computer program to determine the chiral indices n and m. Diffraction patterns of single-walled nanotubes can be evaluated as well as images of multi-walled tubes or bundles of tubes. To be able to verify the results of the algorithm, a simulation program was written, which produces diffraction patterns, that are similar to real ones, i.e. they contain noise, a beamstopper and an undiffracted electron beam.

Translation of the abstract (German)

Im Rahmen dieser Dissertation wurde eine Methode entwickelt, die die Möglichkeit bietet, Elektronenbeugungsaufnahmen von Kohlenstoffnanoröhrchen mit einem Algorithmus automatisch auszuwerten, um die chiralen Indizes n und m zu bestimmen. Sowohl Beugungsbilder von einwandigen Nanoröhrchen als auch Bilder von mehrwandigen Röhrchen und Bündeln können ausgewertet werden. Um die Ergebnisse des ...

Translation of the abstract (German)

Im Rahmen dieser Dissertation wurde eine Methode entwickelt, die die Möglichkeit bietet, Elektronenbeugungsaufnahmen von Kohlenstoffnanoröhrchen mit einem Algorithmus automatisch auszuwerten, um die chiralen Indizes n und m zu bestimmen. Sowohl Beugungsbilder von einwandigen Nanoröhrchen als auch Bilder von mehrwandigen Röhrchen und Bündeln können ausgewertet werden. Um die Ergebnisse des Algorithmus bewerten zu können, wurde ein Simulationsprogramm geschrieben, das Beugungsbilder generiert, die experimentell aufgenommenen ähnlich sind, d.h. die Rauschen, einen Abdeckstab und einen ungebeugten Elektronenstrahl enthalten.

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