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Analysis of electron diffraction patterns from carbon nanotubes with image processing to determine structural parameters

Senninger, Dominik (2011) Analysis of electron diffraction patterns from carbon nanotubes with image processing to determine structural parameters. Dissertation, Universität Regensburg.

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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 06 Dez 2011 07:30

Zusammenfassung (Englisch)

In this PhD-thesis a method was developed, which offers the possibility to analyze electron diffraction patterns from carbon nanotubes automatically with a computer program to determine the chiral indices n and m. Diffraction patterns of single-walled nanotubes can be evaluated as well as images of multi-walled tubes or bundles of tubes. To be able to verify the results of the algorithm, a ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)

Im Rahmen dieser Dissertation wurde eine Methode entwickelt, die die Möglichkeit bietet, Elektronenbeugungsaufnahmen von Kohlenstoffnanoröhrchen mit einem Algorithmus automatisch auszuwerten, um die chiralen Indizes n und m zu bestimmen. Sowohl Beugungsbilder von einwandigen Nanoröhrchen als auch Bilder von mehrwandigen Röhrchen und Bündeln können ausgewertet werden. Um die Ergebnisse des ...

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Dokumentenart:Hochschulschrift der Universität Regensburg (Dissertation)
Datum:6 Dezember 2011
Begutachter (Erstgutachter):Prof. Dr. Elmar W. Lang und Prof. Dr. Christoph Strunk
Tag der Prüfung:7 November 2011
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk
Biologie und Vorklinische Medizin > Institut für Biophysik und physikalische Biochemie > Prof. Dr. Elmar Lang
Themenverbund:Nicht ausgewählt
Stichwörter / Keywords:Carbon nanotubes Electron diffraction Image Processing
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Dokumenten-ID:22789
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