Ziemann, E. ; Ganichev, Sergey ; Yassievich, Irina ; Prettl, Wilhelm

Charakterisierung tiefer Störstellen in Halbleitern durch Tunnel-ionisation in Terahertzfeldern

Ziemann, E., Ganichev, Sergey, Yassievich, Irina und Prettl, Wilhelm (1998) Charakterisierung tiefer Störstellen in Halbleitern durch Tunnel-ionisation in Terahertzfeldern. In: Fruehjahrstagung der Deutschen-Physikalischen-Gesellschaft, 1998, Regensburg.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:39
Konferenz- oder Workshop-Beitrag

Beteiligte Einrichtungen

Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev
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Details

Dokumentenart	Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Poster)
Seitenbereich:	S. 736
Datum	1998
Institutionen	Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden	Ja
Dokumenten-ID	2445

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