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Weak localization and Raman study of anisotropically etched graphene antidots

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-288885

Oberhuber, Florian, Blien, Stefan, Heydrich, Stefanie, Yaghobian, Fatemeh, Korn, Tobias, Schueller, Christian, Strunk, Christoph, Weiss, Dieter und Eroms, Jonathan (2013) Weak localization and Raman study of anisotropically etched graphene antidots. Applied Physics Letters 14 (103), S. 143111-143115.

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Andere URL zum Volltext: http://link.aip.org/link/doi/10.1063/1.4824025


Zusammenfassung

We study a crystallographic etching process of graphene nanostructures, where zigzag edges can be prepared selectively. The process involves heating exfoliated single-layer graphene samples with a predefined pattern of antidot arrays in an argon atmosphere at 820 ∘C, which selectively removes carbon atoms located on armchair sites. Atomic force microscopy and scanning electron microscopy cannot ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:1 Oktober 2013
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Lupton > Arbeitsgruppe Christian Schüller
Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Dieter Weiss
Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk
Projekte:SFB 689: Spinphänomene in reduzierten Dimensionen, GRK 1570, Elektronische Eigenschaften von Nanostrukturen auf Kohlenstoff-Basis
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.4824025DOI
Klassifikation:
NotationArt
78.30.Na, 81.16.Rf, 81.40.Gh, 81.65.Cf, 61.48.GhPACS
Stichwörter / Keywords:atomic force microscopy, graphene, heat treatment, nanofabrication, nanopatterning, nanostructured materials, quantum dots, Raman spectra, scanning electron microscopy, sputter etching, weak localisation
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:07 Okt 2013 11:11
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:37
Dokumenten-ID:28888
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