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Scanning transmission electron microscopy strain measurement from millisecond frames of a direct electron charge coupled device

Müller, Knut, Ryll, Henning, Ordavo, Ivan, Ihle, Sebastian, Strüder, Lothar, Volz, Kerstin und Zweck, Josef (2012) Scanning transmission electron microscopy strain measurement from millisecond frames of a direct electron charge coupled device. Applied Physics Letters 101, S. 212110.

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Zusammenfassung

A high-speed direct electron detection system is introduced to the field of transmission electron microscopy and applied to strain measurements in semiconductor nanostructures. In particular, a focused electron probe with a diameter of 0.5 nm was scanned over a fourfold quantum layer stack with alternating compressive and tensile strain and diffracted discs have been recorded on a ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2012
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Josef Zweck
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.4767655DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:24 Okt 2016 14:12
Zuletzt geändert:01 Jun 2018 16:13
Dokumenten-ID:34759
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