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A modular framework for simulations of Ionization Profile Monitors - Implementation and Benchmarking

URN to cite this document:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-361982
DOI to cite this document:
10.5283/epub.36198
Vilsmeier, Dominik
Date of publication of this fulltext: 21 Sep 2017 08:24


Abstract (English)

Simulations of electron and ion tracking in Ionization Profile Monitors are an important tool for specifying and designing new monitors. They are also essential for understanding the effects related to the ionization process, guiding field non-uniformities and influence of the beam fields which may lead to a distortion of measured beam profiles. Most of these effects cannot be treated ...

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Translation of the abstract (German)

Simulationen der Elektronen- und Ionenbewegungen in Ionisationsprofilmonitoren sind ein wichtiges Werkzeug für die Ausarbeitung und den Entwurf neuer solcher Messgeräte. Ebenso spielen sie eine wichtige Rolle für das Verständnis von Effekten, die mit dem Ionisationvorgang, den Unregelmäßigkeiten externer elektromagnetischer Felder und dem Einfluss der Teilchenstrahlfelder zusammenhängen, und ...

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