Quantitative measurements of internal electric fields with differential phase contrast microscopy on InGaN/GaN quantum well structures
Lohr, Matthias, Schregle, Ralph, Jetter, Michael
, Wächter, Clemens, Müller-Caspary, Knut, Mehrtens, Thorsten, Rosenauer, Andreas , Pietzonka, Ines, Strassburg, Martin und Zweck, Josef
(2015)
Quantitative measurements of internal electric fields with differential phase contrast microscopy on InGaN/GaN quantum well structures.
physica status solidi (b) 253 (1), S. 140-144.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 17 Mrz 2020 10:56
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Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | physica status solidi (b) | ||||
| Verlag: | Wiley | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | WEINHEIM | ||||
| Band: | 253 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 1 | ||||
| Seitenbereich: | S. 140-144 | ||||
| Datum | 2015 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Josef Zweck | ||||
| Identifikationsnummer |
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| Stichwörter / Keywords | PIEZOELECTRIC FIELD; MACROSCOPIC POLARIZATION; THICKNESS MEASUREMENT; SPECIMEN-THICKNESS; SPECTROSCOPY; GAINN/GAN; DPC; efficiency droop; EFTEM; electric fields; GaN; HAADF; IMFP; MQW; QCSE; quantification; STEM | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 41766 |
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