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Bockhorn, L. ; Velieva, A. ; Hakim, S. ; Wagner, T. ; Rugeramigabo, E. P. ; Schuh, D. ; Reichl, C. ; Wegscheider, W. ; Haug, R. J.

Influence of oval defects on transport properties in high-mobility two-dimensional electron gases

Artikel

Bockhorn, L., Velieva, A., Hakim, S., Wagner, T., Rugeramigabo, E. P., Schuh, D., Reichl, C., Wegscheider, W. und Haug, R. J. (2016) Influence of oval defects on transport properties in high-mobility two-dimensional electron gases. Applied Physics Letters 108 (9), 092103.



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Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftApplied Physics Letters
VerlagAMER INST PHYSICS
Ort der VeröffentlichungMELVILLE
Band108
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels9
Seitenbereich092103
Datum2016
Veröffentlichungsdatum17 Mrz 2020 11:01
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Huber > Arbeitsgruppe Dominique Bougeard
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1063/1.4942886DOI
Stichwörter / KeywordsMOLECULAR-BEAM EPITAXY; ORIGIN; GROWTH;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID41887

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