Direkt zum Inhalt

Bockhorn, L. ; Velieva, A. ; Hakim, S. ; Wagner, T. ; Rugeramigabo, E. P. ; Schuh, D. ; Reichl, C. ; Wegscheider, W. ; Haug, R. J.

Influence of oval defects on transport properties in high-mobility two-dimensional electron gases

Bockhorn, L., Velieva, A., Hakim, S., Wagner, T., Rugeramigabo, E. P., Schuh, D., Reichl, C., Wegscheider, W. und Haug, R. J. (2016) Influence of oval defects on transport properties in high-mobility two-dimensional electron gases. Applied Physics Letters 108 (9), 092103.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 17 Mrz 2020 11:01
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftApplied Physics Letters
Verlag:AMER INST PHYSICS
Ort der Veröffentlichung:MELVILLE
Band:108
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:9
Seitenbereich:092103
Datum2016
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Huber > Arbeitsgruppe Dominique Bougeard
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1063/1.4942886DOI
Stichwörter / KeywordsMOLECULAR-BEAM EPITAXY; ORIGIN; GROWTH;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID41887

Bibliographische Daten exportieren

Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

nach oben