Investigation of Electric Field Induced Ion Migration in Semiconductor Encapsulation Materials without the Interference of Electron Conductivity
Artikel
Schwab, S., Jung, J., Gruber, S., Bauer, M., Miethaner, S., Nelhiebel, M. und Hutter, H. (2016) Investigation of Electric Field Induced Ion Migration in Semiconductor Encapsulation Materials without the Interference of Electron Conductivity. ECS Journal of Solid State Science and Technology 5 (10), N72-N76.Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | ECS Journal of Solid State Science and Technology | ||||
| Band | 5 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 10 | ||||
| Seitenbereich | N72-N76 | ||||
| Datum | 2016 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 17 Mrz 2020 11:04 | ||||
| Institutionen | Nicht ausgewählt | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | Nicht ausgewählt | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 42021 |
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