Investigation of Electric Field Induced Ion Migration in Semiconductor Encapsulation Materials without the Interference of Electron Conductivity
Schwab, S., Jung, J., Gruber, S., Bauer, M., Miethaner, S., Nelhiebel, M. und Hutter, H. (2016) Investigation of Electric Field Induced Ion Migration in Semiconductor Encapsulation Materials without the Interference of Electron Conductivity. ECS Journal of Solid State Science and Technology 5 (10), N72-N76.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 17 Mrz 2020 11:04
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | ECS Journal of Solid State Science and Technology | ||||
| Band: | 5 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 10 | ||||
| Seitenbereich: | N72-N76 | ||||
| Datum | 2016 | ||||
| Institutionen | Nicht ausgewählt | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | Nicht ausgewählt | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 42021 |
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