On detector linearity and precision of beam shift detection for quantitative differential phase contrast applications
Zweck, Josef, Schwarzhuber, Felix, Wild, Johannes
und Galioit, Vincent
(2016)
On detector linearity and precision of beam shift detection for quantitative differential phase contrast applications.
Ultramicroscopy 168, S. 53-64.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 17 Mrz 2020 11:29
Artikel
Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Ultramicroscopy | ||||
| Verlag: | ELSEVIER SCIENCE BV | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | AMSTERDAM | ||||
| Band: | 168 | ||||
| Seitenbereich: | S. 53-64 | ||||
| Datum | 2016 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Josef Zweck | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY; LORENTZ MICROSCOPY; MAGNETIC-STRUCTURES; ATOMIC-RESOLUTION; DOMAIN-STRUCTURES; QUANTUM-WELLS; THIN FOILS; STEM; FIELDS; FILMS; Differential phase contrast; STEM; Magnetic field; Electric field; Detector linearity; Precision | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 42491 |
Bibliographische Daten exportieren
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
Altmetric
Altmetric