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Mobility spectrum analysis on three-dimensional topological insulator BiSbTeSe2

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-461454
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.46145
Wang, Jimin ; Kurzendorfer, Alexander ; Chen, Lin ; Wang, Zhiwei ; Ando, Yoichi ; Xu, Yang ; Miotkowski, Ireneusz ; Chen, Yong P. ; Weiss, Dieter
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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 08 Jul 2021 09:54



Zusammenfassung

We conducted mobility spectrum analysis on a high quality three dimensional topological insulator film of BiSbTeSe2 to extract mobility mu and carrier density n. Top and bottom gates were applied to tune the carrier density on top and bottom surfaces independently. At 1.5K, when the conduction is entirely dominated by the Dirac surface states, we always find two dominant conduction channels (top ...

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