Introducing a non-pixelated and fast centre of mass detector for differential phase contrast microscopy
Schwarzhuber, Felix, Melzl, Peter, Pöllath, Simon und Zweck, Josef (2018) Introducing a non-pixelated and fast centre of mass detector for differential phase contrast microscopy. Ultramicroscopy 192, S. 21-28.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 28 Jul 2021 17:08
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Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Ultramicroscopy | ||||
| Verlag: | ELSEVIER SCIENCE BV | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | AMSTERDAM | ||||
| Band: | 192 | ||||
| Seitenbereich: | S. 21-28 | ||||
| Datum | 2018 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Josef Zweck | ||||
| Identifikationsnummer |
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| Stichwörter / Keywords | TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY; ATOMIC-RESOLUTION; STEM; STEM; Differential phase contrast; Position Sensitive Diode; Centre of mass detection; Pixelated detector; Detector linearity | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 46876 |
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