Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment
Artikel
Lechner, Lorenz, Gaaß, Markus, Paila, Antti, Sillanpää, Mika A., Strunk, Christoph
und Hakonen, Pertti J.
(2011)
Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.
Nanotechnology 22 (12), S. 125203.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Nanotechnology | ||||
| Verlag | IOP | ||||
| Ort der Veröffentlichung | BRISTOL | ||||
| Band | 22 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 12 | ||||
| Seitenbereich | S. 125203 | ||||
| Datum | 2011 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 19 Dez 2024 11:13 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | CARBON NANOTUBES | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Zum Teil | ||||
| Dokumenten-ID | 65105 |
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