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Murawski, J. ; Schwarz, G. ; Novák, V. ; Prettl, W. ; Schöll, E.

Simulation of longitudinal instabilities in filamentary current flow during low‐temperature impurity breakdown in semiconductors

Murawski, J., Schwarz, G., Novák, V., Prettl, W. und Schöll, E. (2005) Simulation of longitudinal instabilities in filamentary current flow during low‐temperature impurity breakdown in semiconductors. ZAMM - Journal of Applied Mathematics and Mechanics / Zeitschrift für Angewandte Mathematik und Mechanik 85 (11), S. 823-835.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 14:55
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftZAMM - Journal of Applied Mathematics and Mechanics / Zeitschrift für Angewandte Mathematik und Mechanik
Verlag:WILEY-V C H VERLAG GMBH
Ort der Veröffentlichung:WEINHEIM
Band:85
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:11
Seitenbereich:S. 823-835
Datum2005
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Wilhelm Prettl
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1002/zamm.200510234DOI
Stichwörter / KeywordsN-TYPE GAAS; DIFFERENT CONTACT GEOMETRIES; IMPACT-IONIZATION; OSCILLATIONS; PATTERNS; PHOTOLUMINESCENCE; EQUATIONS; DYNAMICS; FIELDS; CHAOS; simulation; semiconductors; current filaments; instabilities
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID70407

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