Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe∕GaAs(001)-(4×6)
Artikel
Giovanelli, L., Panaccione, G., Rossi, G., Fabrizioli, M., Tian, C. S., Gastelois, P. L.
, Fujii, J. und Back, C. H.
(2005)
Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe∕GaAs(001)-(4×6).
Applied Physics Letters 87 (4).
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Applied Physics Letters | ||||
| Verlag | AMER INST PHYSICS | ||||
| Ort der Veröffentlichung | MELVILLE | ||||
| Band | 87 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 4 | ||||
| Datum | 2005 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 19 Dez 2024 15:00 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | SUBSTRATE SURFACE RECONSTRUCTION; FE; GAAS(001); ANISOTROPY; DICHROISM; FILMS; SPECTROSCOPY; COBALT; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 70598 |
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