Amorphous Silicon, Flat-Panel, X-ray Detector
Hamer, Okka W., Strotzer, Michael, Zorger, Niels, Paetzel, Christian, Lerch, Klaus, Feuerbach, Stefan und Völk, Markus (2004) Amorphous Silicon, Flat-Panel, X-ray Detector. Investigative Radiology 39 (5), S. 271-276.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 15:15
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Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Investigative Radiology | ||||
| Verlag: | LIPPINCOTT WILLIAMS & WILKINS | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | PHILADELPHIA | ||||
| Band: | 39 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 5 | ||||
| Seitenbereich: | S. 271-276 | ||||
| Datum | 2004 | ||||
| Institutionen | Medizin > Lehrstuhl für Orthopädie Medizin > Lehrstuhl für Röntgendiagnostik | ||||
| Identifikationsnummer |
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| Stichwörter / Keywords | FILM-SCREEN RADIOGRAPHY; DOSE REDUCTION; COMPUTED RADIOGRAPHY; LARGE-AREA; PHANTOM; QUALITY; SYSTEM; image composition; flat-panel detector; digital radiography; long-leg radiography | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 610 Medizin | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 71594 |
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