Phonon Dispersion Curves in Wurtzite-Structure GaN Determined by Inelastic X-Ray Scattering
Ruf, T., Serrano, J.
, Cardona, M., Pavone, P., Pabst, M., Krisch, M., D'Astuto, M., Suski, T., Grzegory, I. und Leszczynski, M.
(2001)
Phonon Dispersion Curves in Wurtzite-Structure GaN Determined by Inelastic X-Ray Scattering.
Physical Review Letters 86 (5), S. 906-909.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 15:54
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Physical Review Letters | ||||
| Verlag: | AMERICAN PHYSICAL SOC | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | COLLEGE PK | ||||
| Band: | 86 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 5 | ||||
| Seitenbereich: | S. 906-909 | ||||
| Datum | 2001 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Theoretische Physik | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | MEV ENERGY RESOLUTION; RAMAN-SPECTRA; ISOTOPIC GAN; AB-INITIO; ANALYZER; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 73859 |
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