Digital Radiography with a Large-Area, Amorphous-Silicon, Flat-Panel X-Ray Detector System
Spahn, Martin
, Strotzer, Michael, Völk, Markus, Böhm, Stefan, Geiger, Bernhard, Hahm, Gerhard und Feuerbach, Stefan
(2000)
Digital Radiography with a Large-Area, Amorphous-Silicon, Flat-Panel X-Ray Detector System.
Investigative Radiology 35 (4), S. 260-266.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 15:58
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Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Investigative Radiology | ||||
| Verlag: | LIPPINCOTT WILLIAMS & WILKINS | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | PHILADELPHIA | ||||
| Band: | 35 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 4 | ||||
| Seitenbereich: | S. 260-266 | ||||
| Datum | 2000 | ||||
| Institutionen | Medizin > Lehrstuhl für Röntgendiagnostik | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | digital radiography; flat-panel detector; amorphous silicon; detective quantum efficiency | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 610 Medizin | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Zum Teil | ||||
| Dokumenten-ID | 74346 |
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