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- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.9977
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Zusammenfassung
Structural investigations of high quality Si/Ge strained-layer superlattices (SLSs) on [001] oriented Ge substrates prepared by molecular beam epitaxy are presented. Cross-sectional transmission electron microscopy reveals that a defect-free superlattice is achieved for a structure composed of a 20-period sequence of 3 monolayers (ML) Si and 9 ML Ge. High-resolution lattice images and electron ...
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