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Schultz, M. ; Merkt, U. ; Sonntag, A. ; Rössler, Ulrich ; Colin, T. ; Helgesen, P. ; Skauli, T. ; Lovold, S.

Density dependent cyclotron and intersubband resonance in inverted CdTe/HgTe/CdTe quantum wells.

Schultz, M., Merkt, U., Sonntag, A., Rössler, Ulrich, Colin, T., Helgesen, P., Skauli, T. und Lovold, S. (1998) Density dependent cyclotron and intersubband resonance in inverted CdTe/HgTe/CdTe quantum wells. Journal of Crystal Growth 184-18, S. 1180-1184.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Aug 2009 13:28
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.1383


Zusammenfassung

Cyclotron and intersubband resonances in HgTe quantum wells in the inverted band regime are studied by Fourier-transform spectroscopy. Metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) allow us to tune the electron density. In particular, we investigate filling factor dependent splittings of the cyclotron resonance in strong magnetic fields and a crossing of Landau levels of the conduction and valence subband. The experimental results are well described by a 6 × 6 k·p-model.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftJournal of Crystal Growth
Band:184-18
Seitenbereich:S. 1180-1184
Datum2 Februar 1998
InstitutionenPhysik > Institut für Theoretische Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Rössler
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1016/S0022-0248(98)80247-9DOI
Stichwörter / KeywordsHgTe; CdTe; Quantum well; Two-dimensional electron system; Cyclotron resonance; Intersubband resonance
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID1383

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