High Resolution Imaging of Nanostructured Si/SiO2 Substrates and Cell Monolayers using Scanning Electrochemical Microscopy.

Bergner, S., Palatzky, P., Wegener, Joachim und Matysik, Frank-Michael (2010) High Resolution Imaging of Nanostructured Si/SiO2 Substrates and Cell Monolayers using Scanning Electrochemical Microscopy. Electroanalysis 23 (1), S. 196-200.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 23 Mrz 2011 08:34
Artikel

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Beteiligte Einrichtungen

• Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener)

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Details

Dokumentenart	Artikel
Titel eines Journals oder einer Zeitschrift	Electroanalysis
Verlag:	Wiley-VCH Verlag
Band:	23
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:	1
Seitenbereich:	S. 196-200
Datum	2010
Institutionen	Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener)
Dewey-Dezimal-Klassifikation	500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
Status	Veröffentlicht
Begutachtet	Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden	Ja
Dokumenten-ID	20250

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