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High Resolution Imaging of Nanostructured Si/SiO2 Substrates and Cell Monolayers using Scanning Electrochemical Microscopy.

Bergner, S., Palatzky, P., Wegener, Joachim und Matysik, Frank-Michael (2010) High Resolution Imaging of Nanostructured Si/SiO2 Substrates and Cell Monolayers using Scanning Electrochemical Microscopy. Electroanalysis 23 (1), S. 196-200.

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2010
Institutionen:Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener)
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:23 Mrz 2011 08:34
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:29
Dokumenten-ID:20250
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