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Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy
Wutscher, Thorsten und Giessibl, Franz J. (2011) Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy. Review of Scientific Instruments 82 (2), 026106.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 07 Sep 2011 08:31
Artikel
DOI zum Zitieren dieses Dokuments: 10.5283/epub.22073
Zusammenfassung
We report an in situ method of preparing tips for scanning probe microscopy (SPM). Oriented single-crystal nickel oxide (NiO) rods were diced, using a wafer saw, to prepare artificial breaking points. Two geometries, a single rod and a two-sided cut rod were fabricated. The cleavable tips were mounted to a force sensor based on a quartz tuning fork and cleaved using the coarse approach of the SPM. Atomically resolved force microscopy images of NiO (001) were taken with these NiO tips.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Review of Scientific Instruments | ||||||
| Verlag: | American Institute of Physics (AIP) | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Band: | 82 | ||||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 2 | ||||||
| Seitenbereich: | 026106 | ||||||
| Datum | 2011 | ||||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||||
| Identifikationsnummer |
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| Klassifikation |
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| Stichwörter / Keywords | atomic force microscopy; crystal faces; force sensors; image resolution; nickel compounds; specimen preparation | ||||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||||
| Status | Veröffentlicht | ||||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||||
| URN der UB Regensburg | urn:nbn:de:bvb:355-epub-220731 | ||||||
| Dokumenten-ID | 22073 |
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