URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-220731
Wutscher, Thorsten und Giessibl, Franz J. (2011) Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy. Review of Scientific Instruments 82 (2), 026106.
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Andere URL zum Volltext: http://dx.doi.org/doi/10.1063/1.3549628
Zusammenfassung
We report an in situ method of preparing tips for scanning probe microscopy (SPM). Oriented single-crystal nickel oxide (NiO) rods were diced, using a wafer saw, to prepare artificial breaking points. Two geometries, a single rod and a two-sided cut rod were fabricated. The cleavable tips were mounted to a force sensor based on a quartz tuning fork and cleaved using the coarse approach of the SPM. Atomically resolved force microscopy images of NiO (001) were taken with these NiO tips.
Bibliographische Daten exportieren
| Dokumentenart: | Artikel | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Datum: | 2011 | ||||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||||
| Projekte: | SFB 689: Spinphänomene in reduzierten Dimensionen | ||||||
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| Stichwörter / Keywords: | atomic force microscopy; crystal faces; force sensors; image resolution; nickel compounds; specimen preparation | ||||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Ja | ||||||
| Eingebracht am: | 07 Sep 2011 08:31 | ||||||
| Zuletzt geändert: | 08 Mrz 2017 08:31 | ||||||
| Dokumenten-ID: | 22073 |
