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Atomic force microscopy at ambient and liquid conditions with stiff sensors and small amplitudes

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-229222

Wutscher, Elisabeth und Giessibl, Franz J. (2011) Atomic force microscopy at ambient and liquid conditions with stiff sensors and small amplitudes. Review of Scientific Instruments 82, 093703.

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Zusammenfassung

We report on atomic force microscopy (AFM) in ambient and liquid environments with the qPlus sensor, a force sensor based on a quartz tuning fork with an all-electrical deflection measurement scheme. Small amplitudes, stiff sensors with bulk diamond tips and high Q values in air and liquid allow to obtain high resolution images. The noise sources in air and liquid are analyzed and compared for ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2011
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.3633950DOI
Klassifikation:
NotationArt
07.79.LhPACS
07.07.DfPACS
Stichwörter / Keywords:atomic force microscopy; calcium compounds; diamond; force sensors; graphene; noise; Q-factor; quartz; vibrations
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:12 Dez 2011 08:26
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:31
Dokumenten-ID:22922
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