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Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-252727

Giessibl, Franz J. (1997) Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy. Physical Review B (PRB) 56 (24), S. 16010-16015.

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Andere URL zum Volltext: http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.56.16010


Zusammenfassung

True atomic resolution in vacuum with a force microscope is now obtained routinely by using the frequency shift of an oscillating cantilever as the imaging signal. Here, a calculation is presented that relates the frequency shift to the forces between tip and sample for both large and small oscillation amplitudes. Also, the frequency versus distance data for van der Waals dominated tip-sample ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:15 Dezember 1997
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/PhysRevB.56.16010DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:05 Jul 2012 05:57
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:33
Dokumenten-ID:25272
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