Higher-harmonic atomic force microscopy
Giessibl, Franz J. (2006) Higher-harmonic atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis 38 (12-13), S. 1696-1701.Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 10 Jul 2012 14:04
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Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Surface and Interface Analysis | ||||
| Verlag: | John Wiley & Sons | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Band: | 38 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 12-13 | ||||
| Seitenbereich: | S. 1696-1701 | ||||
| Datum | 29 November 2006 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | atomic force microscopy; sub–Angstrom spatial resolution; higher harmonics; qPlus sensor | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| Dokumenten-ID | 25319 |
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