Giessibl, Franz J. (2003) B2. Principle of High-Resolution Atomic Force Microscopy. In: Blügel, Stefan und Luysberg, Martina und Urban, Knut und Waser, Rainer, (eds.) Fundamentals of nanoelectronics : lecture manuscripts of the 34th spring school of the Department of Solid State Research / Forschungszentrum Jülich GmbH, Institut für Festkörperforschung. Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Materie und Material, 14 (B2). Forschungszentrum, Zentralbibliothek, Jülich. ISBN 3-89336-319-X.
Im Publikationsserver gibt es leider keinen Volltext zu diesem Eintrag.
Bibliographische Daten exportieren
| Dokumentenart: | Buchkapitel |
|---|---|
| Datum: | 2003 |
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status: | Veröffentlicht |
| Begutachtet: | Unbekannt / Keine Angabe |
| An der Universität Regensburg entstanden: | Unbekannt / Keine Angabe |
| Dokumenten-ID: | 25331 |
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
["Plugin/Screen/EPrint/Box/CoreRecommender:title" not defined]
["Plugin/Screen/EPrint/Box/CoreRecommender:title" not defined]