Principle of High-Resolution Atomic Force Microscopy
Buchkapitel
Giessibl, Franz J. (2003) B2. Principle of High-Resolution Atomic Force Microscopy. In: Blügel, Stefan und Luysberg, Martina und Urban, Knut und Waser, Rainer, (eds.) Fundamentals of nanoelectronics : lecture manuscripts of the 34th spring school of the Department of Solid State Research / Forschungszentrum Jülich GmbH, Institut für Festkörperforschung. Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Materie und Material, 14 (B2). Forschungszentrum, Zentralbibliothek, Jülich. ISBN 3-89336-319-X.Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Buchkapitel |
| ISBN | 3-89336-319-X |
| Buchtitel: | Fundamentals of nanoelectronics : lecture manuscripts of the 34th spring school of the Department of Solid State Research / Forschungszentrum Jülich GmbH, Institut für Festkörperforschung |
|---|---|
| Verlag | Forschungszentrum, Zentralbibliothek |
| Ort der Veröffentlichung | Jülich |
| Sonstige Reihe: | Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Materie und Material |
| Band | 14 |
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | B2 |
| Datum | 2003 |
| Veröffentlichungsdatum | 10 Jul 2012 14:29 |
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Unbekannt / Keine Angabe |
| An der Universität Regensburg entstanden | Unbekannt / Keine Angabe |
| Dokumenten-ID | 25331 |
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