Giessibl, Franz J. (2003) B2. Principle of High-Resolution Atomic Force Microscopy. In: Blügel, Stefan und Luysberg, Martina und Urban, Knut und Waser, Rainer, (eds.) Fundamentals of nanoelectronics : lecture manuscripts of the 34th spring school of the Department of Solid State Research / Forschungszentrum Jülich GmbH, Institut für Festkörperforschung. Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Materie und Material, 14 (B2). Forschungszentrum, Zentralbibliothek, Jülich. ISBN 3-89336-319-X.
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Bibliographische Daten exportieren
| Dokumentenart: | Buchkapitel |
|---|---|
| Datum: | 2003 |
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Status: | Veröffentlicht |
| Begutachtet: | Unbekannt / Keine Angabe |
| An der Universität Regensburg entstanden: | Unbekannt / Keine Angabe |
| Eingebracht am: | 10 Jul 2012 14:29 |
| Zuletzt geändert: | 06 Mai 2016 08:10 |
| Dokumenten-ID: | 25331 |
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