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Untersuchung der Kopplung von atomaren Strömen und atomaren Kräften durch die Rastersondenmikroskopie

URN to cite this document:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-272052
DOI to cite this document:
10.5283/epub.27205
Wutscher, Thorsten
Date of publication of this fulltext: 15 Jan 2013 08:31


Abstract (German)

Die simultane Rastertunnel- (STM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) zeigt auf der Si(111)-7×7 Oberfläche eine Kontrastinversion im AFM Signal. Messungen bei konstanter Höhe ergeben, dass der Tunnelstrom I einen starken Einfluß auf das AFM Signal, die Frequenzverschiebung Δf, ausübt. Der Effekt des Tunnelstroms auf die Frequenzverschiebung beruht auf einer Verringerung der effektiven Spitze-Probe ...

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Translation of the abstract (English)

Simultaneous scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) on Si(111)-7x7 shows a contrast inversion in the AFM signal at constant height imaging.This is due to a strong impact of the tunnel current I on the AFM signal, which is the measured frequency shift Δf. The effect of the tunnel current on the frequency shift is due to the lowering of the effective tip-sample ...

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