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Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen

URN to cite this document:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-280529
Welker, Joachim
Date of publication of this fulltext: 23 Apr 2013 13:44


Abstract (German)

Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine atomar scharfe Spitze in einem Abstand von wenigen hundert Pikometer über eine Probe geführt und die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gemessen. Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie ist in der Lage subatomare Strukturen abzubilden. In dieser Arbeit wird eine ...

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Translation of the abstract (English)

Scanning probe microscopy is today an important method in surface science. In a scanning probe microscope an atomically sharp tip is scanned over a surface in a distance of a few hundred picometers and the interaction between the tip and the sample is being measured. Highest resolution atomic force microscopy is able to image subatomic structures. In this thesis a method is shown to characterize ...

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