Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine atomar scharfe Spitze in einem Abstand von wenigen hundert Pikometer über eine Probe geführt und die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gemessen. Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie ist in der Lage subatomare Strukturen abzubilden. In dieser Arbeit wird eine Methode zur Charakterisierung des Bindungszustands der Spitze vorgestellt. Dafür wird die Entwicklung der chemischen Bindungskraft zwischen einem Wolfram-Spitzenatom und einem Kohlenmonoxid-Molekül quantitativ untersucht. Je nach Orientierung der Wolfram-Spitze zeigt sich eine subatomare Winkelabhängigkeit der Bindungskraft. Die Orientierung der Spitze kann verändert werden, um einen Bindungszustand mit einer bestimmten Symmetrie zu erhalten. Mit dieser Methode wird der Einfluss des Bindungszustands auf die Kraftmessung an einer Silizium-Probe untersucht.

Scanning probe microscopy is today an important method in surface science. In a scanning probe microscope an atomically sharp tip is scanned over a surface in a distance of a few hundred picometers and the interaction between the tip and the sample is being measured. Highest resolution atomic force microscopy is able to image subatomic structures. In this thesis a method is shown to characterize the chemical bonding of the tip. For this, the evolution of the chemical bonding force between a tungsten apex atom and a carbon monoxide molecule is quantitatively analyzed. Depending on the orientation of the tungsten tip a subatomic angular dependence of the bond strength is observed. The orientation of the tip can be varied to obtain a certain bonding symmetry. With this method, the influence of the bonding symmetry on the force measurement on a silicon sample is investigated.