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Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen

Welker, Joachim (2013) Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen. Dissertationsreihe der Fakultät für Physik der Universität Regensburg 30, PhD, Universität Regensburg.

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Date of publication of this fulltext: 23 Apr 2013 13:44

Abstract (German)

Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine atomar scharfe Spitze in einem Abstand von wenigen hundert Pikometer über eine Probe geführt und die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gemessen. Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie ist in der Lage subatomare Strukturen abzubilden. In dieser Arbeit wird eine ...

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Translation of the abstract (English)

Scanning probe microscopy is today an important method in surface science. In a scanning probe microscope an atomically sharp tip is scanned over a surface in a distance of a few hundred picometers and the interaction between the tip and the sample is being measured. Highest resolution atomic force microscopy is able to image subatomic structures. In this thesis a method is shown to characterize ...

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Item type:Thesis of the University of Regensburg (PhD)
Series of the University of Regensburg:Dissertationsreihe der Fakultät für Physik der Universität Regensburg
Date:23 April 2013
Referee:Prof. Dr. Franz J. Gießibl and Prof. Dr. Christian Schüller
Date of exam:14 December 2012
Institutions:Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Chair Professor Giessibl > Group Franz J. Giessibl
Related URLs:
URLURL Type
http://www.universitaetsverlag-regensburg.de/artikel_7900.ahtmlPublisher
Keywords:Scanning probe microscopy, bonding symmetry, subatomic angular dependence
Dewey Decimal Classification:500 Science > 530 Physics
Status:Published
Refereed:Yes, this version has been refereed
Created at the University of Regensburg:Yes
Item ID:28052
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