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Wastl, Daniel S. ; Speck, Florian ; Wutscher, Elisabeth ; Ostler, Markus ; Seyller, Thomas ; Giessibl, Franz J.

Observation of 4 nm Pitch Stripe Domains Formed by Exposing Graphene to Ambient Air

Artikel

Wastl, Daniel S. , Speck, Florian, Wutscher, Elisabeth, Ostler, Markus, Seyller, Thomas und Giessibl, Franz J. (2013) Observation of 4 nm Pitch Stripe Domains Formed by Exposing Graphene to Ambient Air. ACS Nano 7 (11), S. 10032-10037.



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftACS Nano
VerlagAMER CHEMICAL SOC
Ort der VeröffentlichungWASHINGTON
Band7
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels11
SeitenbereichS. 10032-10037
Datum3 Oktober 2013
Veröffentlichungsdatum18 Nov 2013 12:37
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1021/nn403988yDOI
Stichwörter / KeywordsEPITAXIAL GRAPHENE; FORCE MICROSCOPY; LAYER; REACTIVITY; RESOLUTION; GRAPHITE; SENSOR; graphene; self-assembly; stripe structure; ambient environment; atomic force microscopy
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenZum Teil
Dokumenten-ID29023

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