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Wastl, Daniel S. ; Speck, Florian ; Wutscher, Elisabeth ; Ostler, Markus ; Seyller, Thomas ; Giessibl, Franz J.

Observation of 4 nm Pitch Stripe Domains Formed by Exposing Graphene to Ambient Air

Wastl, Daniel S. , Speck, Florian, Wutscher, Elisabeth, Ostler, Markus, Seyller, Thomas und Giessibl, Franz J. (2013) Observation of 4 nm Pitch Stripe Domains Formed by Exposing Graphene to Ambient Air. ACS Nano 7 (11), S. 10032-10037.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 18 Nov 2013 12:37
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftACS Nano
Verlag:AMER CHEMICAL SOC
Ort der Veröffentlichung:WASHINGTON
Band:7
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:11
Seitenbereich:S. 10032-10037
Datum3 Oktober 2013
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1021/nn403988yDOI
Stichwörter / KeywordsEPITAXIAL GRAPHENE; FORCE MICROSCOPY; LAYER; REACTIVITY; RESOLUTION; GRAPHITE; SENSOR; graphene; self-assembly; stripe structure; ambient environment; atomic force microscopy
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenZum Teil
Dokumenten-ID29023

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