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Atomic force microscopy in the picometer regime - resolving spins and non-trivial surface terminations

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-307820

Pielmeier, Florian (2014) Atomic force microscopy in the picometer regime - resolving spins and non-trivial surface terminations. Dissertation, Universität Regensburg.

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Zusammenfassung (Englisch)

Atomic Force MIcrosocpy (AFM) offers the unique possiblity to study conductive as well as insulating surfaces at the atomic scale. While achieving atomic or sub-molecular resolution with low temperature AFM is well established nowadays, the resolution of subatomic features and magnetic exchange interactions remains a challenge. The first part of this work deals with the characterization and ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)

Die Rasterkraftmikroskopie (RKM) bietet die einzigartige Möglichkeit leitfähige wie auch isolierende Oberflächen auf atomarer Skala zu untersuchen. Das Erreichen von atomaren und submolekularer Auflösung mittels Tieftemperatur-RKM ist zwischenzeitlich kein Problem mehr, jedoch stellt die Auflösung subatomarer Strukturen und von magnetischen Austauschkräften nach wie vor eine Herausforderung dar. ...

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Dokumentenart:Hochschulschrift der Universität Regensburg (Dissertation)
Datum:29 September 2014
Begutachter (Erstgutachter):Prof. Dr. Franz J. Gießibl
Tag der Prüfung:19 September 2014
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Stichwörter / Keywords:atomic force microscopy, scanning tunneling microsocpy, scanning probe microsocpy, qPlus sensor, needle sensor, signal-to-noise ratio, subatomic resolution, spin resolution, exchange interaction, topological insulator
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:29 Sep 2014 15:47
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:38
Dokumenten-ID:30782
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