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Atomic force microscopy in the picometer regime - resolving spins and non-trivial surface terminations

URN to cite this document:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-307820
Pielmeier, Florian
Date of publication of this fulltext: 29 Sep 2014 15:47


Abstract (English)

Atomic Force MIcrosocpy (AFM) offers the unique possiblity to study conductive as well as insulating surfaces at the atomic scale. While achieving atomic or sub-molecular resolution with low temperature AFM is well established nowadays, the resolution of subatomic features and magnetic exchange interactions remains a challenge. The first part of this work deals with the characterization and ...

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Translation of the abstract (German)

Die Rasterkraftmikroskopie (RKM) bietet die einzigartige Möglichkeit leitfähige wie auch isolierende Oberflächen auf atomarer Skala zu untersuchen. Das Erreichen von atomaren und submolekularer Auflösung mittels Tieftemperatur-RKM ist zwischenzeitlich kein Problem mehr, jedoch stellt die Auflösung subatomarer Strukturen und von magnetischen Austauschkräften nach wie vor eine Herausforderung dar. ...

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