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Aufbau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikroskops und Messung elektrischer Multipolkräfte im Piconewton-Bereich

URN to cite this document:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-309340
Schneiderbauer, Maximilian
Date of publication of this fulltext: 12 Nov 2014 13:53


Abstract (German)

Als Abbildungs- und Manipulationswerkzeuge auf atomarer Ebene wurden Rastertunnelmikroskope (RTM) und Rasterkraftmikroskope (RKM) zu einer zentralen Technik der Nanotechnologie, die heutzutage zu den wichtigsten Forschungsfeldern überhaupt gehört. Mit der Entwicklung des qPlus-Sensors 1998 durch Giessibl wurde es auf einfache Weise möglich RTM und RKM zu kombinieren. Die simultane Aufzeichnung ...

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Translation of the abstract (English)

As imaging and manipulation tools on the atomic scale scanning tunneling microscopes (STM) and atomic force microscopes (AFM) became a central technique in nanotechnology, one of the most important research fields nowadays. With the development of the qPlus-sensor in 1998 by Giessibl it became possible to combine STM and AFM in a single probe. The simultaneously recorded channels in a combined ...

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