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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-322116
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.32211
Zusammenfassung (Deutsch)
Die Rasterkraftmikroskopie ist eine wichtige experimentelle Methode, mit der Oberflächen atomar aufgelöst untersucht werden können. Dabei wird die Kraft-Wechselwirkung zwischen einer atomar scharfen Spitze und einer Probe gemessen. Im Rahmen dieser Arbeit wurde ein kombiniertes Tieftemperatur- Rastertunnel/Rasterkraftmikroskop entwickelt. Der Aufbau und die zugrundeliegenden physikalischen ...
Übersetzung der Zusammenfassung (Englisch)
Atomic-force-microscopy is key when it comes to atomically resolved imaging of surfaces. The technique relies on the forces that act when approaching an atomically sharp tip to the surface of a sample. In this thesis, a combined low temperature atomic-force/scanning-tunneling-microscope was developed. With this instrument, single iron adatoms, adsorbed on a Cu(111) substrate, were investigated. ...