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Subatomare Auflösung auf Adatomen und kraftfeldabhängige laterale Manipulation mit einem eigenentwickelten Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskop

Emmrich, Matthias (2015) Subatomare Auflösung auf Adatomen und kraftfeldabhängige laterale Manipulation mit einem eigenentwickelten Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskop. PhD, Universität Regensburg.

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Date of publication of this fulltext: 28 Jul 2015 15:06

Abstract (German)

Die Rasterkraftmikroskopie ist eine wichtige experimentelle Methode, mit der Oberflächen atomar aufgelöst untersucht werden können. Dabei wird die Kraft-Wechselwirkung zwischen einer atomar scharfen Spitze und einer Probe gemessen. Im Rahmen dieser Arbeit wurde ein kombiniertes Tieftemperatur- Rastertunnel/Rasterkraftmikroskop entwickelt. Der Aufbau und die zugrundeliegenden physikalischen ...

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Translation of the abstract (English)

Atomic-force-microscopy is key when it comes to atomically resolved imaging of surfaces. The technique relies on the forces that act when approaching an atomically sharp tip to the surface of a sample. In this thesis, a combined low temperature atomic-force/scanning-tunneling-microscope was developed. With this instrument, single iron adatoms, adsorbed on a Cu(111) substrate, were investigated. ...

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Item type:Thesis of the University of Regensburg (PhD)
Date:28 July 2015
Referee:Prof. Dr. Franz J. Giessibl
Date of exam:10 July 2015
Institutions:Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Chair Professor Giessibl > Group Franz J. Giessibl
Keywords:atomic force microscopy, AFM, cluster, Fe on Cu(111), subatomic resolution, lateral manipulation, instrumentation, COFI, tip termination, CO-terminated tip
Dewey Decimal Classification:500 Science > 530 Physics
Status:Published
Refereed:Yes, this version has been refereed
Created at the University of Regensburg:Yes
Item ID:32211
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