Emmrich, Matthias (2015) Subatomare Auflösung auf Adatomen und kraftfeldabhängige laterale Manipulation mit einem eigenentwickelten Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskop. PhD, Universität Regensburg.
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Abstract (German)
Die Rasterkraftmikroskopie ist eine wichtige experimentelle Methode, mit der Oberflächen atomar aufgelöst untersucht werden können. Dabei wird die Kraft-Wechselwirkung zwischen einer atomar scharfen Spitze und einer Probe gemessen. Im Rahmen dieser Arbeit wurde ein kombiniertes Tieftemperatur- Rastertunnel/Rasterkraftmikroskop entwickelt. Der Aufbau und die zugrundeliegenden physikalischen ...
Translation of the abstract (English)
Atomic-force-microscopy is key when it comes to atomically resolved imaging of surfaces. The technique relies on the forces that act when approaching an atomically sharp tip to the surface of a sample. In this thesis, a combined low temperature atomic-force/scanning-tunneling-microscope was developed. With this instrument, single iron adatoms, adsorbed on a Cu(111) substrate, were investigated. ...
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| Item type: | Thesis of the University of Regensburg (PhD) |
|---|---|
| Date: | 28 July 2015 |
| Referee: | Prof. Dr. Franz J. Giessibl |
| Date of exam: | 10 July 2015 |
| Institutions: | Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Chair Professor Giessibl > Group Franz J. Giessibl |
| Keywords: | atomic force microscopy, AFM, cluster, Fe on Cu(111), subatomic resolution, lateral manipulation, instrumentation, COFI, tip termination, CO-terminated tip |
| Dewey Decimal Classification: | 500 Science > 530 Physics |
| Status: | Published |
| Refereed: | Yes, this version has been refereed |
| Created at the University of Regensburg: | Yes |
| Item ID: | 32211 |
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