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Scanning probe microscope simulator for the assessment of noise in scanning probe microscopy controllers

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-338045

Wutscher, Thorsten, Niebauer, Johannes und Giessibl, Franz J. (2013) Scanning probe microscope simulator for the assessment of noise in scanning probe microscopy controllers. Review of Scientific Instruments 84, 073704-1.

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Zusammenfassung

We present an electronic circuit that allows to calibrate and troubleshoot scanning probe microscopy (SPM) controllers with respect to their noise performance. The control signal in an SPM is typically highly nonlinear—the tunneling current in scanning tunneling microscopy (STM) varies exponentially with distance. The exponential current-versus-voltage characteristics of diodes allow to model the ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:9 Juli 2013
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:SFB 689: Spinphänomene in reduzierten Dimensionen
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.4812636DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:27 Mai 2016 05:50
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:40
Dokumenten-ID:33804
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