URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-338297
Giessibl, Franz J. und Trafas, Brian M. (1994) Piezoresistive cantilevers utilized for scanning tunneling and scanning force microscope in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments 65 (6), S. 1923-1929.
| PDF Download (1MB) |
Zum Artikel beim Verlag (über DOI)
Zusammenfassung
Piezoresistive cantilevers have been utilized in a novel ultrahigh vacuum scanning probe microscope which allows in situscanning tunneling microscopy(STM), contact atomic force microscopy(AFM), and noncontact atomic force microscopy. The instrument uses interchangeable tungsten tips (for STM imaging) and piezoresistive cantilevers (for AFM or STM imaging) and is capable of atomic resolution in ...
Bibliographische Daten exportieren
| Dokumentenart: | Artikel | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Datum: | Juni 1994 | ||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer: |
| ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| Eingebracht am: | 31 Mai 2016 08:15 | ||||
| Zuletzt geändert: | 01 Jun 2018 23:29 | ||||
| Dokumenten-ID: | 33829 |
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
Downloadstatistik