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Piezoresistive cantilevers utilized for scanning tunneling and scanning force microscope in ultrahigh vacuum

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-338297

Giessibl, Franz J. und Trafas, Brian M. (1994) Piezoresistive cantilevers utilized for scanning tunneling and scanning force microscope in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments 65 (6), S. 1923-1929.

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Zusammenfassung

Piezoresistive cantilevers have been utilized in a novel ultrahigh vacuum scanning probe microscope which allows in situscanning tunneling microscopy(STM), contact atomic force microscopy(AFM), and noncontact atomic force microscopy. The instrument uses interchangeable tungsten tips (for STM imaging) and piezoresistive cantilevers (for AFM or STM imaging) and is capable of atomic resolution in ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:Juni 1994
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.1145232DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:31 Mai 2016 08:15
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:40
Dokumenten-ID:33829
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