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Atomic Force Microscopy in Ultrahigh Vacuum

Giessibl, Franz J. (1994) Atomic Force Microscopy in Ultrahigh Vacuum. Japanese Journal of Applied Physics (JJAP) 33, Part 1 (6B), S. 3726-3734.

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Zusammenfassung

Since its invention in 1986, atomic force microscopy (AFM) has been used mainly in ambient conditions. Recent advances in instrumentation have fostered the application of AFM in ultrahigh vacuum (UHV). AFM experiments performed in UHV have led to a better understanding of the tip-sample interaction. This article reviews the theory related to achieving true atomic resolution of AFM in UHV in both ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:Juni 1994
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1143/JJAP.33.3726DOI
Stichwörter / Keywords:AFM, STM, UHV, Si (111)7×7, noncontact mode, attractive mode, contact mode, atomic resolution, tip-sample interaction, force measurement
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:31 Mai 2016 08:04
Zuletzt geändert:31 Mai 2016 08:04
Dokumenten-ID:33830
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