Giessibl, Franz J. (1994) Atomic Force Microscopy in Ultrahigh Vacuum. Japanese Journal of Applied Physics (JJAP) 33, Part 1 (6B), S. 3726-3734.
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Zusammenfassung
Since its invention in 1986, atomic force microscopy (AFM) has been used mainly in ambient conditions. Recent advances in instrumentation have fostered the application of AFM in ultrahigh vacuum (UHV). AFM experiments performed in UHV have led to a better understanding of the tip-sample interaction. This article reviews the theory related to achieving true atomic resolution of AFM in UHV in both ...
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| Dokumentenart: | Artikel | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Datum: | Juni 1994 | ||||
| Institutionen: | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer: |
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| Stichwörter / Keywords: | AFM, STM, UHV, Si (111)7×7, noncontact mode, attractive mode, contact mode, atomic resolution, tip-sample interaction, force measurement | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status: | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet: | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden: | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| Eingebracht am: | 31 Mai 2016 08:04 | ||||
| Zuletzt geändert: | 25 Mai 2018 13:57 | ||||
| Dokumenten-ID: | 33830 |
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