Atomic Force Microscopy in Ultrahigh Vacuum
Artikel
Giessibl, Franz J. (1994) Atomic Force Microscopy in Ultrahigh Vacuum. Japanese Journal of Applied Physics (JJAP) 33, Part 1 (6B), S. 3726-3734.Alternative Links zum Volltext
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Japanese Journal of Applied Physics (JJAP) | ||||
| Verlag | Institute of Physics Publishing (IOP) ; Japan Society of Applied Physics (JSAP) | ||||
| Band | 33, Part 1 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 6B | ||||
| Seitenbereich | S. 3726-3734 | ||||
| Datum | Juni 1994 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 31 Mai 2016 08:04 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
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| Stichwörter / Keywords | AFM, STM, UHV, Si (111)7×7, noncontact mode, attractive mode, contact mode, atomic resolution, tip-sample interaction, force measurement | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Unbekannt / Keine Angabe | ||||
| Dokumenten-ID | 33830 |
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