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Theory for an electrostatic imaging mechanism allowing atomic resolution of ionic crystals by atomic force microscopy

Giessibl, Franz J. und Binnig, Gerd (1992) Theory for an electrostatic imaging mechanism allowing atomic resolution of ionic crystals by atomic force microscopy. Physical Review B (PRB) 45 (23), 13815(R).

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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 31 Mai 2016 08:12

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Zusammenfassung

An electrostatic imaging mechanism is presented which allows atomic resolution of the surface of ionic crystals by atomic force microscopy (AFM). In the x-y plane the electrostatic field due to the ion charges reflects the periodicity of the surface lattice. If the tip of the AFM stylus is polarizable, an attractive force between tip and sample will exist and allow imaging of the surface in a ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:15 Juni 1992
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/PhysRevB.45.13815DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Dokumenten-ID:33833
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