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Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie mit funktionalisierten Spitzen an einzelnen Adatomen

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-383739
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.38373
Huber, Ferdinand
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 07 Jan 2020 08:23


Zusammenfassung (Deutsch)

Die Frequenzmodulations-Rasterkraftmikroskopie mit einer Metallspitze, die mit einem Kohlenstoffmonoxidmolekül (CO-Molekül) terminiert ist, ermöglicht subatomare Auflösung auf der Probe: Einzelne Kupfer- und Eisen-Adatome auf einer Kupfer(111)-Oberfläche erscheinen für sehr kleine Abstände zwischen Spitze und Adatom als repulsive Tori, während Silizium-Adatome, wie regulär erwartet, als repulsive ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Englisch)

With frequency-modulation atomic force microscopy it is possible to image a sample with subatomic resolution using a metal tip terminated by a carbon monoxide (CO) molecule: single copper and iron adatoms on a Cu(111) surface appear as repulsive tori for small tip-sample distances. Silicon adatoms, however, are imaged as repulsive bumps as expected. This work presents studies of why these two ...

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