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Pürckhauer, Korbinian ; Kirpal, Dominik ; Weymouth, Alfred J. ; Giessibl, Franz J.

Analysis of Airborne Contamination on Transition Metal Dichalcogenides with Atomic Force Microscopy Revealing That Sulfur Is the Preferred Chalcogen Atom for Devices Made in Ambient Conditions

Pürckhauer, Korbinian, Kirpal, Dominik, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2019) Analysis of Airborne Contamination on Transition Metal Dichalcogenides with Atomic Force Microscopy Revealing That Sulfur Is the Preferred Chalcogen Atom for Devices Made in Ambient Conditions. ACS Applied Nano Materials 2 (5), S. 2593-2598.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 10 Jul 2019 12:02
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftACS Applied Nano Materials
Verlag:American Chemical Society
Band:2
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:5
Seitenbereich:S. 2593-2598
Datum9 Mai 2019
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1021/acsanm.9b00526DOI
Stichwörter / KeywordsAFM air ambient environment mechanical exfoliation TMDCs atomic resolution particles ice-like water
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID40493

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