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Candussio, S. ; Budkin, G. V. ; Otteneder, M. ; Kozlov, D. A. ; Dmitriev, I. A. ; Bel'kov, V. V. ; Kvon, Z. D. ; Mikhailov, N. N. ; Dvoretsky, S. A. ; Ganichev, S. D.

Cyclotron-resonance-induced photogalvanic effect in surface states of 200-nm-thick strained HgTe films

Artikel

Candussio, S., Budkin, G. V. , Otteneder, M., Kozlov, D. A., Dmitriev, I. A., Bel'kov, V. V., Kvon, Z. D., Mikhailov, N. N., Dvoretsky, S. A. und Ganichev, S. D. (2019) Cyclotron-resonance-induced photogalvanic effect in surface states of 200-nm-thick strained HgTe films. Physical Review Materials 3 (5).



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftPhysical Review Materials
VerlagAMER PHYSICAL SOC
Ort der VeröffentlichungCOLLEGE PK
Band3
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels5
Datum2019
Veröffentlichungsdatum03 Sep 2021 10:02
InstitutionenPhysik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik
Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Professor Ganichev > Arbeitsgruppe Sergey Ganichev
Identifikationsnummer
WertTyp
10.1103/PhysRevMaterials.3.054205DOI
Stichwörter / KeywordsMISFIT; SPIN; DISLOCATIONS; GROWTH;
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID48657

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