Combined atomic force microscope and scanning tunneling microscope with high optical access achieving atomic resolution in ambient conditions
Artikel
Pürckhauer, Korbinian, Maier, Simon, Merkel, Anja, Kirpal, Dominik und Giessibl, Franz J.
(2020)
Combined atomic force microscope and scanning tunneling microscope with high optical access achieving atomic resolution in ambient conditions.
Review of Scientific Instruments 91 (8), 083701.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Review of Scientific Instruments | ||||
| Verlag | AMER INST PHYSICS | ||||
| Ort der Veröffentlichung | MELVILLE | ||||
| Band | 91 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 8 | ||||
| Seitenbereich | 083701 | ||||
| Datum | 2020 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 11 Okt 2021 12:46 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | SPRING CONSTANTS; CALIBRATION; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 49805 |
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