Experimental use of the inflection point test for force deconvolution in frequency-modulation atomic force microscopy to turn an ill-posed situation into a well-posed one by proper choice of amplitude
Huber, Ferdinand
und Giessibl, Franz J.
(2020)
Experimental use of the inflection point test for force deconvolution in frequency-modulation atomic force microscopy to turn an ill-posed situation into a well-posed one by proper choice of amplitude.
Journal of Applied Physics 127 (18), S. 184301.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 11 Okt 2021 12:50
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Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Journal of Applied Physics | ||||
| Verlag: | AMER INST PHYSICS | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Ort der Veröffentlichung: | MELVILLE | ||||
| Band: | 127 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels: | 18 | ||||
| Seitenbereich: | S. 184301 | ||||
| Datum | 2020 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | GRAPHENE NANORIBBONS; SURFACE; RESOLUTION; SENSOR; SHIFTS; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 50018 |
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