Mapping leakage currents in a nanostructure fabricated via local anodic oxidation
Artikel
Huefner, M, Schnez, S, Kueng, B, Ihn, T
, Reinwald, M, Wegscheider, W und Ensslin, K
(2011)
Mapping leakage currents in a nanostructure fabricated via local anodic oxidation.
Nanotechnology 22 (29), S. 295306.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Nanotechnology | ||||
| Verlag | IOP PUBLISHING LTD | ||||
| Ort der Veröffentlichung | BRISTOL | ||||
| Band | 22 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 29 | ||||
| Seitenbereich | S. 295306 | ||||
| Datum | 2011 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 19 Dez 2024 11:09 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik | ||||
| Identifikationsnummer |
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| Stichwörter / Keywords | SCANNING FORCE MICROSCOPE; TIP-INDUCED ANODIZATION; SURFACES; DEVICES; | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Ja | ||||
| Dokumenten-ID | 64758 |
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