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Barrett, John W. ; Garcke, Harald ; Nürnberg, Robert

A phase field model for the electromigration of intergranular voids

Barrett, John W., Garcke, Harald und Nürnberg, Robert (2007) A phase field model for the electromigration of intergranular voids. Interfaces and Free Boundaries, Mathematical Analysis, Computation and Applications 9 (2), S. 171-210.

Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 19 Dez 2024 14:00
Artikel



Beteiligte Einrichtungen


Details

DokumentenartArtikel
Titel eines Journals oder einer ZeitschriftInterfaces and Free Boundaries, Mathematical Analysis, Computation and Applications
Verlag:EUROPEAN MATHEMATICAL SOC
Ort der Veröffentlichung:ZURICH
Band:9
Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels:2
Seitenbereich:S. 171-210
Datum2007
InstitutionenMathematik > Prof. Dr. Harald Garcke
Identifikationsnummer
WertTyp
10.4171/IFB/161DOI
Stichwörter / KeywordsFINITE-ELEMENT APPROXIMATION; CAHN/CAHN-HILLIARD SYSTEM; SURFACE-DIFFUSION; BOUNDARY MOTION; THIN-FILM; EQUATIONS; EVOLUTION; MOBILITY; SCHEMES; SHARP; void electromigration; phase field model; degenerate Allen-Cahn/Cahn-Hilliard equation; fourth order degenerate parabolic equation; finite elements; convergence analysis; matched asymptotic expansions
Dewey-Dezimal-Klassifikation500 Naturwissenschaften und Mathematik > 510 Mathematik
StatusVeröffentlicht
BegutachtetJa, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstandenJa
Dokumenten-ID69535

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